(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】特開2007−134457(P2007−134457A)
(43)【公開日】平成19年5月31日(2007.5.31)
(54)【発明の名称】光検出器
(51)【国際特許分類】
H01L 31/10 (2006.01)
【FI】
H01L 31/10 A
【審査請求】未請求
【請求項の数】5
【出願形態】OL
【全頁数】9
(21)【出願番号】特願2005−325059(P2005−325059)
(22)【出願日】平成17年11月9日(2005.11.9)
(71)【出願人】
【識別番号】000236436
【氏名又は名称】浜松ホトニクス株式会社
【住所又は居所】静岡県浜松市市野町1126番地の1
(74)【代理人】
【識別番号】100088155
【弁理士】
【氏名又は名称】長谷川 芳樹
(74)【代理人】
【識別番号】100092657
【弁理士】
【氏名又は名称】寺崎 史朗
(74)【代理人】
【識別番号】100124291
【弁理士】
【氏名又は名称】石田 悟
(72)【発明者】
【氏名】滝本 貞治
【住所又は居所】静岡県浜松市市野町1126番地の1 浜松ホトニクス株式会社内
【テーマコード(参考)】
5F049
【Fターム(参考)】
5F049 MA02 NA10 PA08 QA03 RA04 WA01
--------------------------------------------------
(57)【要約】
【課題】波長選択性を更に向上可能な光検出器を提供する。
【解決手段】第1及び第2ウェル領域1p,2pには不純物濃度差があるので、キャリアのPN接合への流入量が異なる。第1及び第2ホトダイオードPD1,PD2の出力を第1及び第2電極E1,E2を介して差分を出力する信号処理回路20に入力すると、入射光の長波長成分がカットされた状態で、キャリア流入量差に依存した比較的長波長の成分が信号処理回路20から出力されることとなる。双方のホトダイオードPD1,PD2はウェル領域1p、2pを用いているため、これらの構造の差異に起因する短波長側の信号レベル差(ノイズ信号)は減少し、波長選択性を十分に改善することができる。
【選択図】図1
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【特許請求の範囲】
【請求項1】
光検出器において、
第1導電型の半導体領域と、
前記半導体領域内に形成された第1導電型の第1ウェル領域と、
前記第1ウェル領域内に形成された第2導電型の第1半導体層と、
前記半導体領域内に形成された第1導電型の第2ウェル領域と、
前記第2ウェル領域内に形成された第2導電型の第2半導体層と、
前記第1半導体層に電気的に接続された第1電極と、
前記第2半導体層に電気的に接続された第2電極と、
前記第1及び第2電極が接続され入力信号の差分を出力する信号処理回路と、
を備え、
前記第1及び第2ウェル領域の不純物濃度は異なっており、且つ、
前記半導体領域の不純物濃度は前記第1及び第2ウェル領域の不純物濃度のいずれよりも低い、
ことを特徴とする光検出器。
【請求項2】
前記半導体領域は、半導体基板であることを特徴とする請求項1に記載の光検出器。
【請求項3】
前記半導体領域は、第1導電型の半導体基板内に形成された第1導電型ウェル領域であることを特徴とする請求項1に記載の光検出器
【請求項4】
前記半導体領域の前記第1及び第2ウェル領域とは反対側に形成された高不純物濃度の第2導電型の半導体層を更に備えることを特徴とする請求項1に記載の光検出器。
【請求項5】
前記第1及び第2ウェル領域の深さは同一であって、共に、1〜2μmであることを特徴とする請求項1に記載の光検出器。
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テーマ:知的財産権
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】特開2007−128848(P2007−128848A)
(43)【公開日】平成19年5月24日(2007.5.24)
(54)【発明の名称】X線管および非破壊検査装置
(51)【国際特許分類】
H01J 35/08 (2006.01) H01J 35/18 (2006.01) G01N 23/04 (2006.01)
【FI】
H01J 35/08 C H01J 35/18 G01N 23/04
【審査請求】未請求
【請求項の数】7
【出願形態】OL
【全頁数】16
(21)【出願番号】特願2006−91070(P2006−91070)
(22)【出願日】平成18年3月29日(2006.3.29)
(31)【優先権主張番号】特願2005−295697(P2005−295697)
(32)【優先日】平成17年10月7日(2005.10.7)
(33)【優先権主張国】日本国(JP)
(71)【出願人】
【識別番号】000236436
【氏名又は名称】浜松ホトニクス株式会社
【住所又は居所】静岡県浜松市市野町1126番地の1
(74)【代理人】
【識別番号】100088155
【弁理士】
【氏名又は名称】長谷川 芳樹
(74)【代理人】
【識別番号】100092657
【弁理士】
【氏名又は名称】寺崎 史朗
(74)【代理人】
【識別番号】100124291
【弁理士】
【氏名又は名称】石田 悟
(72)【発明者】
【氏名】稲鶴 務
【住所又は居所】静岡県浜松市市野町1126番地の1 浜松ホトニクス株式会社内
(72)【発明者】
【氏名】岡田 知幸
【住所又は居所】静岡県浜松市市野町1126番地の1 浜松ホトニクス株式会社内
【テーマコード(参考)】
2G001
【Fターム(参考)】
2G001 AA01 AA03 AA10 AA20 BA11 CA01 HA13 KA03 MA05
--------------------------------------------------
(57)【要約】
【課題】試料に対してX線を斜めから照射して得られる拡大透視画像の拡大率を高めると共に不必要なX線の漏洩を防止できるX線管及び非破壊検査装置を提供することを目的とする。
【解決手段】管状の真空外囲器本体6内に配置された陽極8のターゲット9に、電子銃17から出射された電子を入射させてX線を発生させ、そのX線をX線出射窓18から取り出すX線管1Aにおいて、陽極8は、真空外囲器本体6の管軸線C1上に配置され、真空外囲器本体6の端部に設けられた封塞部5gには、X線出射窓18が、真空外囲器本体6の管軸線C1に対して偏心して設けられている。
【選択図】 図3
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【特許請求の範囲】
【請求項1】
管状の陽極収容部内に配置された陽極のターゲットに、電子銃から出射された電子を入射させてX線を発生させ、そのX線をX線出射窓から取り出すX線管において、
前記陽極は、前記陽極収容部の管軸線に沿って配置され、
前記陽極収容部の端部に設けられた封塞部には、前記X線出射窓が、前記陽極収容部の前記管軸線に対して偏心して設けられていることを特徴とするX線管。
【請求項2】
前記電子銃は、前記陽極収容部の前記管軸線の周囲に設けられた周壁に取り付けられ、前記X線出射窓は、前記管軸線に対して前記電子銃側に偏心していることを特徴とする請求項1記載のX線管。
【請求項3】
前記X線出射窓は、前記封塞部に複数設けられていることを特徴とする請求項1または2記載のX線管。
【請求項4】
前記電子銃は、前記陽極収容部に固定された管状の電子銃収容部に収容され、
前記電子銃収容部の管軸線は、前記陽極収容部の前記管軸線に直交し、
前記X線出射窓は、前記陽極収容部の前記管軸線と前記電子銃収容部の前記管軸線とを含む面からずれた位置に中心を有することを特徴とする請求項2記載のX線管。
【請求項5】
前記電子銃は、前記陽極収容部に固定された管状の電子銃収容部に収容され、
前記電子銃収容部の前記管軸線と前記陽極収容部の前記管軸線とは交差し、且つ前記電子銃収容部の前記管軸線と前記陽極収容部の前記管軸線とで形成された前記陽極側の挟角は鋭角であり、
前記X線出射窓は、前記陽極収容部の前記管軸線と前記電子銃収容部の前記管軸線とを含む面上に中心を有することを特徴とする請求項1記載のX線管。
【請求項6】
前記封塞部には、前記陽極収容部の前記管軸線に対して偏心して設けられた前記X線出射窓と、前記陽極収容部の前記管軸線上に中心を有するX線中央出射窓とが設けられていることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項記載のX線管。
【請求項7】
管状の陽極収容部内に配置された陽極のターゲットに、電子銃から出射された電子を入射させてX線を発生させ、そのX線をX線出射窓から取り出すX線管と、前記X線管から取り出されて試料を透過した前記X線を撮像するX線画像撮像装置とを有する非破壊検査装置において、
前記ターゲットは、前記陽極収容部の管軸線上に配置され、
前記陽極収容部の端部に設けられた封塞部には、前記X線出射窓が、前記陽極収容部の前記管軸線に対して偏心して設けられていることを特徴とする非破壊検査装置。
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テーマ:知的財産権